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描述中心位置的统计量包括( )。
A.样本方差
B.样本均值
C.样本中位数
D.样本标准差
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不合格合计为( )。
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某元件的质量特性X服从正态分布,即X~N(μ,σ2)USL与LSL为它的上下规范限,不合格品率P=PL+PU,其中( )。
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请回答第 89~90 题:
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